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全自动MRAM探测器系统
集团公司OHT正在推进半导体非接触式电气检查设备业务，采用FPD用O/S测试仪中掌握的非接触电气检查技术的半导体检查装置，特别是先进设计的MRAM检查装置得到了很高的评价，实现了MRAM全自动检测的商业化。
- 产品描述
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集团公司OHT正在推进半导体非接触式电气检查设备业务，采用FPD用O/S测试仪中掌握的非接触电气检查技术的半导体检查装置，特别是先进设计的MRAM检查装置得到了很高的评价，实现了MRAM全自动检测的商业化。
特征：
1、可以全自动测量 MRAM 特性；
2、内置初始化器，可全自动进行测量前的初始化（复位），缩短测量时间；
3、产生强而均匀的磁场（Prover：高达1.5T，Initializer：2.7T
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